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该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
主要性能指标:
* 波长范围及峰值波长 (二者择其一)
(1)365探头(光谱响应曲线见图)
λ:(320~400)nm; λP=365nm
(2)420探头(光谱响应曲线见图)
λ:(375~475)nm; λP=420nm
* 辐照度测量范围
(0.1~199.9×103)μW/cm2
* 紫外带外区杂光
365 小于0.02%
420 小于0.02%
* 准确度
±10%
* 响应时间
1秒
* 使用环境
温度(0~40)℃;湿度<85%RH
* 尺寸和重量
180mm×80mm×36mm;0.2kg
* 电源
6F22型9V积层电池一只